探针作为直接接触被测物体的关键部件,各项参数是客户们最为关心的问题。不仅仅影响价格,更重要的是将会左右测试结果。
下记将会从以下两大角度分别探讨探针的指标属性。
探针物理指标 Physical Specifications
1. Material:制作探针所使用的材质
2.Assembly Pitch(Full Array):适用间距
3.Tip Size:针尖尺寸
4. Tip Length:针尖长度(通常理解为可使用针长)
5.CCC:耐电流程度(电性指标)
6. CRES:探针接触电阻大小(电性指标)
7. Full Pin Length:针长
8.Contact Force:探针单位形变产生的压力
9.Max OD:探针能承受的最大受压行程
10.Touch Down(Life):探针测试时与被测物的接触次数,通常也指探针寿命
测试时探针相关 Probe Related When Testiing
11. X.Y Alignment:探针针尖X.Y方向位置度→影响扎针的位置
12. Z Planarity:探针针尖→影响扎针的有效性
13.Probe Depth:探针针尖到PCB底部的距离
14.Probing OD:测试时探针行程
15.Cleaning OD:清洁时探针行程
16.Die Interval:测试时探针在线清针频率(执行N个TD后执行1次清针)
17.Cleaning TD Limit:在线清针时,探针在清针砂纸上的清洁往回次数
18.Cleaning Movement:水平清针时,探针相对清针砂纸的移动距离
当然针对不同的被测物,探针也会被制作成不同的针形,比如圆头,平头,尖头,楔形等等,将会根据具体case去评估选用最为适当的针型。
上记18个关于探针的参数指标,其实归根结底还是性能与寿命的考量。探针的质量决定了一张探针卡的水平如何。
















半导体材料是半导体制造工艺的核心基础。半导体产业链包括上游材料(品类多达上百种)与设备、中游制造和下游应用。而半导体材料和设备是基石,是推动整个产业技术创新的引擎。






近日,浙江微针半导体有限公司宣布,目前2D CIS MEMS探针卡产品已进入量产阶段!项目研发设计团队完成了该产品从设计、验证到制造交付的完整流程。
背景:随着数字化进程的不断深入,移动设备上的摄像头与人眼扮演着同样重要的角色。摄像头上的CMOS图像传感器则具有像人眼视网膜一样捕捉图像的功能。CIS ( Contact Image Sensor,接触式图像传感器),是继线阵CCD、CMOS技术之后发展完善的一类新型光电成像传感器。




