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简述探针本身以及测试时涉及的相关指标——垂直探针

探针作为直接接触被测物体的关键部件,各项参数是客户们最为关心的问题。不仅仅影响价格,更重要的是将会左右测试结果。

下记将会从以下两大角度分别探讨探针的指标属性。

探针物理指标  Physical Specifications

1. Material:制作探针所使用的材质

2.Assembly Pitch(Full Array):适用间距

3.Tip Size:针尖尺寸

4. Tip Length:针尖长度(通常理解为可使用针长)

5.CCC:耐电流程度(电性指标)

6. CRES:探针接触电阻大小(电性指标)

7. Full Pin Length:针长

8.Contact Force:探针单位形变产生的压力

9.Max OD:探针能承受的最大受压行程

10.Touch Down(Life):探针测试时与被测物的接触次数,通常也指探针寿命

测试时探针相关  Probe Related When Testiing

11. X.Y Alignment:探针针尖X.Y方向位置度→影响扎针的位置

12. Z Planarity:探针针尖→影响扎针的有效性

13.Probe Depth:探针针尖到PCB底部的距离

14.Probing OD:测试时探针行程

15.Cleaning OD:清洁时探针行程

16.Die Interval:测试时探针在线清针频率(执行N个TD后执行1次清针)

17.Cleaning TD Limit:在线清针时,探针在清针砂纸上的清洁往回次数

18.Cleaning Movement:水平清针时,探针相对清针砂纸的移动距离

当然针对不同的被测物,探针也会被制作成不同的针形,比如圆头,平头,尖头,楔形等等,将会根据具体case去评估选用最为适当的针型。

上记18个关于探针的参数指标,其实归根结底还是性能与寿命的考量。探针的质量决定了一张探针卡的水平如何。

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