显示驱动IC作为显示面板行业核心零件，是驱动显示面板点亮与图像显示的重要电子元器件。

随着MicroLed, OLED等新兴显示技术的兴起，显示驱动IC（Display Drive IC）所需的测试需求愈发复杂，主要体现在以下方面：

1，IC尺寸与PAD Siize逐渐缩小，细微化，部分Pad尺寸已经低至15um*15um尺寸。

2，Pin数越来越高，随着面板像素的不断提升，在较小范围内进行高达4000个点位的晶圆接触测试已经成为基本要求。

3，高频测试，随着显示屏的FPS刷新率不断提高，电源与信号的处理的要求也在不断提升，微针半导体有能力制作高达6Ghz的测试条件。

微针半导体的技术人员拥有20年设计制造经验，利用P7, H3C等材料探针制造Pad Size 13*30um 的探针卡，设计寿命可高达1000万次。