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高压/大电流芯片测试探针卡 High Voltage / Current Test Probe Card
适用于第三代半导体芯片测试,Memsflex™开发CresDistributor™技术,协助客户在测试过程制造合理的气体环境、拥有良好的接触阻抗均匀性控制,从而程度降低大功率/大电流产品晶圆测试时的烧针、打火风险。
特点 Features
参数 Specifications
参数表 Data Sheet
特点 Features
- 氮气腔室结构允许氮气持续输入防止打火
- 使用铍铜针+镀层处理降低接触阻抗
- 支持最高10000V电压/500A电流
- 快速交期
- 10万次TDs
参数 Specifications
特征 | 详情 |
Pin Count | Up to 100 probes |
Miin. Pad Pitch | 80um |
Min. pad size | 100 |
Alignment / Planarity | ±25um |
Test Life Time | 50kTDs |
Probe Material | Pt, Pd alloy, Re-W |
C. Res. | 5Ω |
Max Voltage | 10000V |
Max Current | 500A |
Operating Temp | -20°C ~140 ℃ |
参数表 Data Sheet