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适用于第三代半导体芯片测试，Memsflex™开发CresDistributor™技术，协助客户在测试过程制造合理的气体环境、拥有良好的接触阻抗均匀性控制，从而程度降低大功率/大电流产品晶圆测试时的烧针、打火风险。
特征 | 详情 |
Pin Count | Up to 100 probes |
Miin. Pad Pitch | 80um |
Min. pad size | 100 |
Alignment / Planarity | ±25um |
Test Life Time | 50kTDs |
Probe Material | Pt, Pd alloy, Re-W |
C. Res. | 5Ω |
Max Voltage | 3500V |
Max Current | 200A |
Operating Temp | -20°C ~140 ℃ |
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