Test Socket 测试座 – MEMS探针卡|半导体探针卡|probe card

IC Test Socket 测试座

微针有经验于各类芯片和封装类型的测试座，可以进行全面定制，从load board socet, burn in socket, 到高频socket, 手测盖等都可以供应。探针拥有pogo pin, rubber socket, 夹球插座等多样选择。

应用领域 Application

特点 Features

支持各类POGO PIN 的制作：

单动针 pogo pin 弹簧针

双动pogo pin 弹簧针

尖头pogo pin 弹簧针

平头pogo pin 弹簧针

爪头（皇冠头）pogo pin 弹簧针

开尔文 kelvin pogo pin 弹簧针

同轴 coxial pogo pin 针

一站式测试座定制开发服务，支持WLCSP，BGA，QFP，QFN等各类封装类型，支持手测盖定制，支持load board, burn in board 测试座定制开发服务。

wlcsp test socket 晶圆级封装测试座

bga test socket 测试座

qfn test socket 测试座

manual test socket with lid 手测盖

burn in test socket 老化测试座

qfp test socket 老化测试座

支持特殊socket定制，r如rubber socket, 夹球插座，finger类型的插座，大功率测试插座以及高频测试插座，极限环境测试插座等。

finger test socket 金手指测试插座

夹球插座测试座

rubber socket test 导电胶测试插座

大功率测试座高压大电流测试插座 high power test socket

极限环境测试插座 extreme temperature test socket

高频测试插座 high frequency test socket