公司动态
了解公司的最新动态，新闻，发布
高压/大电流芯片测试探针卡 High Voltage / Current Test Probe Card
适用于第三代半导体芯片测试，Memsflex™开发CresDistributor™技术，协助客户在测试过程制造合理的气体环境、拥有良好的接触阻抗均匀性控制，从而程度降低大功率/大电流产品晶圆测试时的烧针、打火风险。
特点 Features
参数 Specifications
参数表 Data Sheet
特点 Features
- 氮气腔室结构允许氮气持续输入防止打火
- 使用铍铜针+镀层处理降低接触阻抗
- 支持最高10000V电压/500A电流
- 快速交期
- 10万次TDs
参数 Specifications
| 特征 | 详情 |
| Pin Count | Up to 100 probes |
| Miin. Pad Pitch | 80um |
| Min. pad size | 100 |
| Alignment / Planarity | ±25um |
| Test Life Time | 50kTDs |
| Probe Material | Pt, Pd alloy, Re-W |
| C. Res. | 5Ω |
| Max Voltage | 10000V |
| Max Current | 500A |
| Operating Temp | -20°C ~140 ℃ |
参数表 Data Sheet
