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悬臂式探针卡
微针提供快速准确的悬臂式探针卡设计与制造服务,使用铼钨针,P7针,H3C针等材料提供精准,耐用,测试性能良好的探针卡
应用领域 Application
- DDI (Display Drive IC) : CP & F/T Devices
- Logic Device
- WAT (DC Parameter Test)
特点 Features
- 成本低
- 制作周期快
- 灵活/可操作性强
- 窄间距 Pitch 可到22 um (DDI)
最多达 4000 Pin 的 Fine Pitch DDI探针卡设计与制造服务
匹配逐渐缩小,细微化的显示驱动IC测试需求,微针半导体的技术人员拥有20年设计制造经验,利用P7, H3C等材料探针制造Pad Size 13*30um 的探针卡,设计寿命可高达1000万次。
最多16 Site 的Logic Device 探针卡设计制造服务
微针为MCU, SOC, ASIC 等Logic 电路提供悬臂式探针卡设计与制造服务,支持数字,模拟,数模混合信号,可设计单Site与Multi Site, 最高支持16 Site,拥有高速,高频设计制造能力。
低漏电测试/晶圆接受测试悬臂式探针卡
微针提供种探针组合的晶圆接受测试探针卡,使用铼钨针,P7针,MEMS等探针配合探针卡做DC Parameter测试,有用优秀的漏电测试能力,并且优秀的接触电阻控制能力(30mA条件 < 2Ω)